树枝形态观察：通过高分辨率显微镜观察绝缘材料中树枝化放电通道的形态（如树枝长度、直径、分支数），分析放电发展阶段。参数：扫描电镜分辨率≥10nm，光学显微镜放大倍数≥500倍。
树枝生长速率：实时监测绝缘材料在持续电应力作用下，树枝长度随时间的变化，评估劣化速度。参数：时间分辨率≤10分钟，长度测量精度≤1μm。
局部放电量：检测树枝化放电过程中产生的局部放电脉冲幅值，反映放电强度。参数：测量范围1pC-1000pC，脉冲分辨率≤1ns。
介质损耗因数（tanδ）：测量绝缘材料在交变电场下的介质损耗，反映树枝化引起的介电性能退化。参数：测量精度≤0.01%，频率范围50Hz-10kHz。
体积电阻率变化：监测树枝化过程中绝缘材料体积电阻率的下降，评估导电通道形成情况。参数：测量范围10¹⁰-10¹⁶Ω·m，测试电压500V-5000V。
击穿电压下降率：测量树枝化放电导致的绝缘击穿电压降低幅度，评估绝缘强度退化程度。参数：电压范围0-100kV，精度≤1%，击穿时间记录分辨率≤1ms。
空间电荷分布：检测绝缘材料内部空间电荷的积累与分布，分析树枝化放电的诱因。参数：深度分辨率≤10μm，电荷密度测量范围10⁻⁶-10⁻³C/m³。
介电常数变化：测量树枝化过程中介电常数（εr）的变化，反映介质极化特性的改变。参数：频率范围1kHz-10MHz，介电常数测量精度≤0.1%。
放电脉冲特征分析：分析树枝化放电的脉冲特征（如幅值、频率、相位），识别放电类型（如电树枝、水树枝）。参数：脉冲宽度测量分辨率1ns，相位分辨率≤1°。
局部温度升高检测：通过热像技术监测树枝化放电引起的局部温度变化，评估热劣化程度。参数：温度分辨率≤0.1℃，空间分辨率≤1mm。
树枝通道电导率：测量树枝化放电通道的电导率，反映导电能力变化。参数：测量范围10⁻⁸-10⁻²S/m，测试电压10V-100V，精度≤1%。
电力电缆绝缘层：交联聚乙烯（XLPE）、聚氯乙烯（PVC）、乙丙橡胶（EPR）等电力电缆主绝缘层，用于检测长期运行中的树枝化劣化。
变压器油纸绝缘：变压器内部油纸复合绝缘结构（绝缘纸、变压器油），检测油中水分、杂质引发的树枝化放电。
绝缘子：陶瓷绝缘子、复合绝缘子（硅橡胶）的绝缘介质，用于评估输电线路绝缘子的树枝化劣化情况。
电容器薄膜：聚丙烯（PP）、聚酯（PET）、聚苯乙烯（PS）等电容器用绝缘薄膜，检测薄膜在电场作用下的树枝化生长。
电机绕组绝缘：漆包线绝缘层、绕组浸渍漆（环氧、聚酯），评估电机运行中绕组绝缘的树枝化劣化。
光伏组件封装胶膜：乙烯-醋酸乙烯共聚物（EVA）、聚烯烃（POE）等光伏组件封装胶膜，检测胶膜在紫外线、热应力下的树枝化放电。
高压开关绝缘套管：环氧树脂、瓷质、复合绝缘套管，用于检测开关设备绝缘套管的树枝化劣化。
轨道交通绝缘部件：地铁接触网绝缘支架、机车电缆绝缘层（如交联聚乙烯），评估轨道交通设备绝缘的树枝化失效风险。
航空航天电缆绝缘：氟塑料（PTFE）、聚酰亚胺（PI）等航空航天用电缆绝缘层，检测高温、高真空环境下的树枝化放电。
电子封装材料：环氧模塑料（EMC）、有机硅封装胶，用于电子元件（如集成电路、晶体管）封装绝缘的树枝化检测。
IEC 60840:2015 交流额定电压30kV及以上挤包绝缘电力电缆及附件 第1部分：试验方法和要求。
GB/T 3048.12-2007 电线电缆电性能试验方法 第12部分：树枝化放电试验。
ASTM D3300-17 固体电绝缘材料树枝化放电试验方法。
ISO 11243:2016 绝缘材料 树枝化放电的测定 试验方法。
IEC 62067:2011 高压交流电缆 树枝化放电检测导则。
GB/T 22079-2008 电气绝缘材料 树枝化放电试验 导则。
ASTM D6278-02(2017) 聚合物绝缘中树枝化放电的超声检测方法。
ISO 24346:2020 电力设备绝缘 树枝化放电现场检测 试验方法。
GB/T 18857-2002 配电线路用绝缘子 树枝化放电试验。
IEC 61934:2015 电子元件 绝缘树枝化放电试验 方法。
树枝形态分析仪（扫描电镜）：采用高分辨率扫描电镜观察绝缘材料中树枝化放电通道的微观形态，包括树枝直径、长度、分支结构及表面缺陷。参数：分辨率≥10nm，放大倍数500-100000倍，支持二次电子与背散射电子成像。
局部放电检测仪：通过传感器检测树枝化放电产生的局部放电脉冲信号，测量脉冲幅值、频率及相位分布，识别放电强度与类型。参数：测量范围1pC-1000pC，脉冲宽度分辨率≤1ns，相位分辨率≤1°，支持PRPD分析。
树枝生长速率监测系统：结合光学显微镜与实时成像技术，实时监测绝缘材料在持续电应力作用下，树枝长度随时间的变化过程。参数：时间分辨率≤10分钟，长度测量精度≤1μm，支持自动跟踪与数据记录。
空间电荷测量系统（PEA法）：采用脉冲电声法检测绝缘材料内部空间电荷的分布状态，分析电荷积累与树枝化放电的相关性。参数：深度分辨率≤10μm，电荷密度测量范围10⁻⁶-10⁻³C/m³，测试电压0-50kV。
介质损耗测试仪：测量绝缘材料在交变电场下的介质损耗因数（tanδ）与介电常数（εr），反映树枝化引起的介电性能退化。参数：频率范围50Hz-10kHz，tanδ测量精度≤0.01%，εr测量精度≤0.1%，支持温度补偿（0-100℃）。
击穿电压测试仪：施加逐步升高的电压至绝缘材料击穿，测量树枝化放电导致的击穿电压下降幅度，评估绝缘强度退化。参数：电压范围0-100kV，升压速率0.1-10kV/s，精度≤1%，支持自动放电保护。
超声检测仪：通过发射与接收超声信号，识别绝缘材料中树枝化放电的位置、大小及发展程度，适用于现场检测。参数：探测频率0.5-10MHz，探测深度≤100mm，分辨率≤1mm。
红外热像仪：检测树枝化放电引起的局部温度升高，通过热像图分析热点位置与温度分布，评估热劣化程度。参数：温度范围-20-300℃，温度分辨率≤0.1℃，空间分辨率≤1mm，支持实时录像与数据存储。
放电脉冲分析仪：对局部放电检测仪采集的脉冲信号进行深入分析，提取脉冲幅值、频率、上升时间等特征参数，区分树枝化放电与其他类型放电。参数：脉冲宽度测量分辨率1ns，幅值测量范围0-1000pC，支持直方图与频谱分析。
体积电阻率测试仪：测量绝缘材料在树枝化过程中体积电阻率的变化，反映导电通道的形成与发展。参数：测量范围10¹⁰-10¹⁶Ω·m，测试电压500V-5000V，精度≤1%，支持温度与湿度补偿。
销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。
研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。
司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。
大学论文：科研数据使用。
投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。
准确性较高;工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。
