真空下绝缘电阻：测量材料在真空环境中的直流绝缘电阻，反映其阻止直流电流通过的能力，测试电压100V~1000V，测量范围10^6Ω~10^14Ω，精度±5%。
真空介质损耗因数（tanδ）：评估材料在真空下的介质损耗特性，反映绝缘材料的能量损耗程度，测试频率50Hz~1MHz，测量范围0.0001~0.1，分辨率0.00001。
真空击穿电压：测定材料在真空环境中发生击穿时的最低电压，表征其绝缘极限性能，电极间距1mm~10mm，升压速率1kV/s~10kV/s，测量范围0~100kV。
真空沿面放电电压：检测绝缘材料表面在真空下沿界面发生放电的起始电压，评估沿面绝缘性能，试样尺寸100mm×100mm×2mm，电极类型棒-板，测量范围0~50kV。
真空电晕起始电压：确定材料在真空环境中产生电晕放电的最低电压，反映局部电场集中情况，测试温度25℃±5℃，真空度1×10^-3Pa~1×10^-5Pa，测量范围0~30kV。
真空环境下局部放电量：测量材料在真空下发生局部放电的电荷量，评估绝缘内部缺陷程度，检测频率50Hz，灵敏度1pC，测量范围1pC~1000pC。
真空材料体积电阻率：测量材料在真空环境中的体积电阻率，反映其内部绝缘性能，测试电压500V，电极配置三电极系统，测量范围10^8Ω·m~10^16Ω·m。
真空环境下表面电阻率：评估材料表面在真空下的导电性能，防止表面放电，测试电压250V，电极间距50mm，测量范围10^7Ω~10^13Ω。
真空环境下介电常数（εr）：测定材料在真空下的介电常数，反映其储存电场能量的能力，测试频率1kHz~100kHz，测量范围1~10，精度±2%。
真空环境下耐电晕寿命：评估材料在真空环境中承受电晕放电的寿命，反映其长期绝缘稳定性，测试电压为击穿电压的80%，持续时间0~1000小时，记录失效时间。
航天航空设备：包括卫星舱体、运载火箭推进系统、航天服生命维持系统等，需检测其在太空真空环境中的绝缘性能，保障航天任务的安全性。
半导体制造设备：如真空光刻机、离子注入机、刻蚀机等，其内部绝缘组件需适应高真空环境，防止放电现象影响芯片制造的精度和效率。
真空电子器件：比如行波管、速调管、真空断路器等，这些器件的绝缘结构直接影响其工作效率和寿命，需在真空下测试其电气性能。
低温真空容器：如液氦罐、液氮罐等，其绝缘材料需在低温和真空下保持良好的绝缘性能，防止热量传递导致容器内介质蒸发。
太阳能电池组件：太空用太阳能电池板的绝缘层需承受真空环境，避免放电现象影响发电效率，保障卫星等航天器的能源供应。
真空镀膜设备：如磁控溅射机、蒸发镀膜机等，其内部绝缘部件需抵抗真空下的电离放电，保障镀膜过程的连续性和镀膜质量。
核工业真空设备：如核反应堆真空室、粒子加速器真空管道等，绝缘材料需在真空和辐射环境下保持稳定，防止辐射导致的绝缘性能下降。
医疗器械真空组件：如真空采血器、真空吸引器等，其绝缘部分需保障医疗操作的安全性和卫生性，避免真空下的电气故障。
电力系统真空开关：用于高压电力系统的真空开关，其绝缘性能直接影响开关的断开能力和使用寿命，需在真空下测试其击穿电压等参数。
科研实验真空装置：如电子显微镜、光谱仪、真空炉等，实验设备的绝缘部分需满足高真空环境下的精确测量要求，保障实验数据的准确性。
ASTM D257-2021《固体电绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法》：适用于真空环境下绝缘电阻和体积电阻率的测量，规定了测试电极配置和电压应用方法。
ISO 6271-2019《绝缘材料 介质损耗因数和相对介电常数的测量》：规定了真空环境下介质损耗因数（tanδ）和介电常数（εr）的测试方法，涵盖频率范围和精度要求。
GB/T 1692-2008《电气绝缘材料 工频击穿电压试验方法》：适用于真空环境下击穿电压的测定，规定了试样制备、电极间距和升压速率等参数。
IEC 60243-1-2013《绝缘材料 电气强度试验 第1部分：工频下试验》：涵盖真空环境下的电气强度测试，包括击穿电压和沿面放电电压的测量方法。
GB/T 31838.2-2015《真空技术 真空设备 第2部分：绝缘性能要求》：规定了真空设备绝缘性能的测试标准，包括绝缘电阻、击穿电压等指标的要求。
ASTM F150-2020《真空环境下材料电气性能测试的标准指南》：提供了真空环境下电气测试的通用方法，包括真空度控制、温度调节和测试设备的要求。
ISO 14344-2014《航天技术 空间材料 真空环境下的电气性能试验》：针对航天用材料的真空绝缘测试，规定了试验条件和性能指标。
GB/T 26163.1-2010《电力变压器 第1部分：总则》：涉及真空环境下变压器绝缘性能的要求，包括绝缘电阻、介质损耗等参数的测试方法。
IEC 61300-2-33-2015《纤维光学互连器件和无源组件 基本试验和测量程序 第2-33部分：试验 真空环境下的电气性能》：适用于光纤组件的真空绝缘测试，规定了试验步骤和判定准则。
GB/T 2423.25-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验》：规定了真空环境下的温度控制要求，适用于低温真空环境中的绝缘测试。
真空环境高阻计：用于测量真空下材料的绝缘电阻和体积电阻率，具备宽量程（10^6Ω~10^14Ω）和高精度（±5%），支持直流电压输出（100V~1000V），适用于评估材料的绝缘性能。
真空介质损耗测试仪：采用西林电桥原理，测量真空环境下材料的介质损耗因数（tanδ）和介电常数（εr），测试频率范围50Hz~1MHz，分辨率0.00001，用于分析材料的能量损耗特性。
真空击穿电压试验装置：由高压电源、真空腔、电极系统组成，用于测定材料在真空下的击穿电压和沿面放电电压，升压速率可调（1kV/s~10kV/s），最大输出电压100kV，表征材料的绝缘极限性能。
真空局部放电检测仪：采用脉冲电流法，测量真空环境下材料的局部放电量，灵敏度1pC，支持实时监测和数据记录，用于评估绝缘内部缺陷的严重程度。
真空环境耐电晕寿命试验机：结合高压电源、真空系统和温度控制装置，模拟真空环境下材料的耐电晕寿命，测试电压为击穿电压的80%，持续时间0~1000小时，记录失效时间，反映材料的长期绝缘稳定性。
真空电晕起始电压测试仪：通过逐渐升高电压，检测材料在真空下产生电晕放电的起始电压，具备高精度电压控制（±1%），真空度可达1×10^-5Pa，用于判断材料的局部电场集中情况。
真空环境介电常数测试仪：采用平行板电容法，测量真空下材料的介电常数，测试频率1kHz~100kHz，电极间距可调（1mm~10mm），精度±2%，用于评估材料储存电场能量的能力。
销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。
研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。
司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。
大学论文：科研数据使用。
投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。
准确性较高;工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。
