输配电研究中心
电线电缆研究中心
枝晶长度分布：统计过充后电极表面枝晶的长度分布情况，反映枝晶生长的不均匀性。测量范围0~500μm，分辨率1μm。
枝晶密度：计算单位面积内的枝晶数量，评估枝晶生长的密集程度。测试精度±5%，统计面积≥1mm²。
枝晶生长速率：记录过充过程中枝晶长度随时间的变化速率，揭示枝晶生长的动力学特征。时间分辨率0.1s，速率范围0~10μm/s。
枝晶成分均匀性：分析枝晶内部及表面的元素分布，判断成分偏析对枝晶生长的影响。元素检测限≤0.1at%，空间分辨率≤1μm。
枝晶界面结合强度：测试枝晶与电极基体的结合力，评估枝晶脱落风险。加载速率0.01~1mm/min，力值范围0~10N。
枝晶形貌特征：观察枝晶的形态（如针状、树状、苔藓状）及表面粗糙度，揭示生长机制。形貌分辨率≤5nm，视场范围100nm~100μm。
枝晶孔隙率：测量枝晶结构中的孔隙体积占比，反映枝晶的致密性。孔隙率范围0~50%，测试精度±2%。
枝晶相组成：分析枝晶的物相结构（如金属单质、氧化物、硫化物），确定生长过程中的相变行为。衍射角范围10°~90°，分辨率0.02°。
枝晶生长方向取向：检测枝晶的晶体学取向，研究取向对枝晶生长的影响。取向精度±1°，可分析多晶枝晶的择优取向。
枝晶对隔膜穿透性：评估枝晶穿透电池隔膜的能力，判断内部短路风险。隔膜厚度范围10~50μm，穿透压力测试范围0~100kPa。
锂离子电池：包括三元锂、磷酸铁锂、钴酸锂等各类锂离子电池的正极、负极及电解液体系。
钠离子电池：针对钠离子电池的电极材料（如硬碳、层状氧化物）过充后的枝晶生长情况。
金属锂电池：锂金属负极电池（如锂硫、锂空气电池）过充时锂枝晶的生长倾向检测。
镍氢电池：镍氢电池正极（氢氧化镍）及负极（储氢合金）过充后的枝晶形态分析。
铅酸电池：铅酸电池正极（二氧化铅）、负极（铅）过充时枝晶的生长及脱落情况评估。
固态电池：固态电解质体系下，金属负极过充后枝晶的生长路径及穿透风险检测。
电池电极材料：磷酸铁锂、三元NCM、石墨、硅基负极等材料的过充枝晶生长特性研究。
电池电解液：不同电解液（如碳酸酯类、醚类）对过充后枝晶生长的影响评估。
电池隔膜：聚烯烃隔膜、陶瓷涂层隔膜等在过充条件下抵御枝晶穿透的能力测试。
电池Pack组件：电池模组及Pack过充后内部枝晶生长引发的结构变化分析。
GB/T 33829-2017 锂离子电池过充电安全测试方法
IEC 62660-3:2017 二次锂电池和电池组 第3部分：安全要求
ASTM D7751-19 锂离子电池电极材料枝晶生长测试方法
ISO 12965-1:2014 镍氢电池 第1部分：性能测试
GB/T 22084-2008 锂离子电池用隔膜 安全性能要求及测试方法
IEC 60086-4:2019 原电池 第4部分：锂电池的安全要求
ASTM B822-17 金属镀层枝晶生长倾向测试方法
GB/T 18287-2013 移动电话用锂离子电池及电池组 安全要求
ISO 14644-1:2015 洁净室及相关控制环境 第1部分：空气洁净度分级
GB/T 31485-2015 电动汽车用动力蓄电池安全要求及测试方法
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察过充后电极表面枝晶的形貌特征（如针状、树状），分辨率≤1nm，可实现二次电子成像及背散射电子成像。
透射电子显微镜（TEM）：分析枝晶的晶体结构及成分分布，分辨率≤0.1nm，支持选区电子衍射（SAED）及能谱（EDS）分析。
激光扫描共聚焦显微镜（LSCM）：三维重建枝晶的生长形态，测量枝晶长度及密度，Z轴分辨率≤0.5μm，扫描范围≥10mm×10mm。
电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：测定枝晶及电解液中的金属离子浓度，检出限≤0.01mg/L，元素覆盖范围Li、Na、Ni、Co、Mn等。
电化学工作站：监测过充过程中电池的电压、电流变化，记录枝晶生长的电化学信号，扫描速率范围0.1mV/s~10V/s，电流范围1nA~10A。
原子力显微镜（AFM）：测试枝晶表面的粗糙度及纳米级形貌，分辨率≤0.1nm，可实现力曲线测量以评估枝晶与基体的结合强度。
X射线衍射仪（XRD）：分析枝晶的物相组成（如Li金属、Li2O等），衍射角范围10°~90°，分辨率0.02°，支持全谱拟合及Rietveld分析。
同步辐射X射线 tomography（SR-XRT）：非破坏性三维成像枝晶在电池内部的生长路径，空间分辨率≤1μm，可观察枝晶穿透隔膜的过程。
销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。
研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。
司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。
大学论文：科研数据使用。
投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。
准确性较高;工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。
国家标准
行业标准
地方标准
国际标准
其他标准
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