输配电研究中心
电线电缆研究中心
正极材料颗粒形貌观察：分析过充后正极活性物质（如钴酸锂、三元材料）颗粒的完整性，统计500个颗粒的破裂率，误差≤5%。
正极材料晶界结构分析：表征过充后正极材料晶粒间晶界的宽度及元素偏析情况，晶界宽度测量精度≤0.1nm。
隔膜孔隙率变化测试：测定过充后隔膜（聚乙烯、聚丙烯）的孔隙数量及尺寸分布，孔隙率测量范围10%~90%，误差≤2%。
隔膜热收缩率测定：测量过充后隔膜在纵向（MD）和横向（TD）的收缩率，测试温度范围25℃~200℃，精度≤0.5%。
集流体表面腐蚀形貌分析：观察过充后铝箔（正极集流体）、铜箔（负极集流体）表面的腐蚀坑深度及分布，腐蚀坑深度测量精度≤0.01μm。
负极材料SEI膜厚度测量：表征过充后负极（石墨、硅基）表面固体电解质界面（SEI）膜的厚度变化，厚度测量范围10nm~1000nm，误差≤10%。
电池极片界面接触状态分析：评估过充后正极与铝箔、负极与铜箔的界面结合情况，统计界面剥离面积占比，精度≤3%。
过充后析出锂形貌观察：分析过充后负极表面析出锂的形态（树枝状、颗粒状）及分布密度，统计100μm×100μm区域内的析出锂颗粒数，误差≤10%。
电解质分解产物形貌识别：通过能谱分析（EDS）识别过充后电解质分解产生的固体产物（如Li2CO3、LiF）的形貌，元素检测下限≤0.1at%。
微观裂纹尺寸测量：测定过充后正极材料颗粒内部及跨颗粒的裂纹长度和宽度，裂纹长度测量范围1μm~100μm，精度≤0.5μm。
隔膜表面异物分析：观察过充后隔膜表面的金属颗粒、聚合物残渣等异物的形貌及成分，异物尺寸检测下限≤1μm。
锂电池正极材料：钴酸锂（LiCoO2）、镍钴锰三元材料（NCM）、磷酸铁锂（LiFePO4）等，研究过充后的颗粒破裂、晶界变化等形貌特征。
锂电池隔膜：聚乙烯（PE）隔膜、聚丙烯（PP）隔膜、PE/PP复合隔膜，分析过充后的孔隙结构、热收缩及表面异物情况。
锂电池集流体：正极用铝箔（10μm~20μm厚）、负极用铜箔（6μm~12μm厚），观察过充后的腐蚀形貌及界面结合状态。
锂电池负极材料：天然石墨、人造石墨、硅基复合材料（Si/C），表征过充后的SEI膜厚度及析出锂形貌。
动力电池组件：电动汽车用锂离子电池单体（圆柱、方形、软包）及模块，分析过充后的极片、隔膜微观形貌变化。
消费类电池：手机、笔记本电脑用锂离子电池，研究过充后的失效形貌特征（如正极颗粒破裂、隔膜穿孔）。
储能电池：大规模储能用锂离子电池（≥100Ah），评估过充后的材料形貌演变对电池循环寿命及安全性能的影响。
固态电池：固态电解质（如硫化物陶瓷）及电极界面，分析过充后的形貌变化及界面稳定性（如界面裂纹、电解质分解）。
电池回收材料：退役锂电池拆解后的正极材料（如NCM523）、负极材料，分析过充对其形貌及再利用性能的影响。
新型电池材料：高容量正极材料（如富锂锰基）、高倍率负极材料（如钛酸锂），研究过充后的微观形貌演变规律。
GB/T 33829-2017 锂离子电池正极材料微观形貌测试方法（扫描电子显微镜法）：规定了用SEM分析正极材料颗粒形貌的试样制备、测试步骤及结果表示。
ASTM E2016-15 透射电子显微镜分析金属及合金的标准指南：用于指导TEM分析正极材料晶界结构的操作流程及数据处理。
ISO 13766-1:2018 电池隔膜 第1部分：孔隙率和透气度的测定：规定了隔膜孔隙率的测试方法（液体浸泡法、气体渗透法）及精度要求。
GB/T 24533-2009 锂离子电池隔膜热收缩率测试方法：明确了隔膜热收缩率的测试温度、时间及计算方法（纵向、横向收缩率）。
ASTM B487-19 金属材料表面腐蚀形貌的扫描电子显微镜分析标准方法：用于集流体表面腐蚀形貌的SEM分析，包括试样制备（清洗、干燥）及图像分析。
ISO 20565-1:2018 锂电池负极材料 第1部分：SEI膜厚度的测定（透射电子显微镜法）：规定了用TEM测量负极SEI膜厚度的试样制备（切片、染色）及测量方法。
GB/T 31484-2015 锂离子电池集流体用铝箔表面质量要求及测试方法：明确了铝箔表面腐蚀坑深度、粗糙度的测试方法（SEM、AFM）。
ASTM D7996-15 聚合物材料微观裂纹分析的标准试验方法（扫描电子显微镜法）：用于正极材料、隔膜微观裂纹的SEM分析，包括裂纹长度、宽度的测量。
ISO 14644-1:2015 洁净室及相关控制环境 第1部分：空气洁净度等级划分：规定了样品制备环境的洁净度要求（如100级、1000级），避免外界污染。
GB/T 18287-2013 移动电话用锂离子蓄电池及蓄电池组总规范：参考其中过充条件（如1.2倍额定电压、持续2小时）的设定，用于检测样品的过充处理。
场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）：高分辨率成像设备，用于观察正极材料颗粒形貌、集流体腐蚀形貌、隔膜表面异物等，分辨率≤1nm，放大倍数范围10×~1,000,000×，支持能谱分析（EDS）联用。
透射电子显微镜（TEM）：用于分析正极材料晶界结构、负极SEI膜厚度、析出锂形貌及电解质分解产物，点分辨率≤0.2nm，线分辨率≤0.1nm，支持选区电子衍射（SAED）及能谱分析。
激光扫描共聚焦显微镜（LSCM）：非接触式三维成像仪器，用于测量隔膜孔隙尺寸分布、微观裂纹长度及集流体表面粗糙度，纵向分辨率≤0.1μm，横向分辨率≤0.5μm，支持3D重构。
热机械分析仪（TMA）：用于测定隔膜热收缩率，通过加热试样并记录长度变化，温度范围-150℃~1000℃，长度测量精度≤0.1μm，支持动态热机械分析（DMA）模式。
能谱仪（EDS）：与SEM、TEM联用的元素分析设备，用于识别电解质分解产物、集流体腐蚀产物的元素组成，元素检测范围B~U，检出限≤0.1at%，支持面扫描、线扫描及点分析。
电子背散射衍射仪（EBSD）：与SEM联用的晶体结构分析设备，用于分析正极材料的晶粒取向、晶界类型（如小角度晶界、大角度晶界），空间分辨率≤0.5μm，取向精度≤0.5°。
原子力显微镜（AFM）：用于表征负极材料表面粗糙度、SEI膜三维形貌及隔膜孔隙深度，垂直方向分辨率≤0.1nm，水平方向分辨率≤1nm，支持接触模式、轻敲模式。
孔隙率测试仪（气体渗透法）：用于测量隔膜孔隙率及透气度，通过气体透过率计算孔隙率，测试范围10%~90%，误差≤2%，透气度范围10~1000s/100ml（Gurley法），支持自动试样夹持。
销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力。
研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间。
司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据。
大学论文：科研数据使用。
投标：检测周期短，同时所花费的费用较低。
准确性较高;工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。
国家标准
行业标准
地方标准
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